AtaiTec社

【高周波ディエンベディングツール　InSituDe-embedding(ISD)】

   こんな現象でお困りではありませんか？
−電磁界シミュレーションと測定の結果が合わない。
−非同軸のデバイスの測定で、TRL等の校正方法やネットワークアナライザ付属のソフトで
　デバイスのみのデータを抽出した（ディエンベディングした）が、データが下図の様に
　なってしまった。


　ISDは、被測定物を含む測定治具全体の測定データから、ディエンベディングを行い、被測定物のみパラメータデータの抽出を非常に簡単な操作で行えるソフトウエアです。
  −被測定物を含む測定治具全体のデータと、測定治具の線路部分のスルーデータのみで、
     抽出ができるため、簡便です。
  −被測定物のみのデータと同時に、被測定物を除いた測定治具のデータが得られます。

−ディエンベディングの際に、Sパラメータは時間軸でも補正が行われパッシビティ、
   コーザリティを満足する結果が得られます。
−一般的なTRL法等の他の手法に比べ、簡便かつ精度良く被測定物のみのデータを抽出する
   ことができます。
−コンデンサ、インダクタ、抵抗、フィルタ、IC等の高周波部品、差動デバイスや高速伝送
   用コネクタ等の多端子部品、オンウエハで測定される高周波素子等、Sパラメータで評価
　されるものに対して使用できます。
−測定結果だけでなく、電磁界シミュレータ等の結果に対しても、精度良くディエンベディ
   ングができます。

高速伝送用コネクタ評価への適用事例（TRL法との比較例）



　TRL法による結果ではInsertion Loss, Return Lossに、多くのリップルが見られますが、ISDの出力結果には見られません。
　上記の様なSパラメータデータをTDR変換すると下図の様なデータが得られます。図中、TRL法で得られた結果ではコーザリティが崩れているのが分かります。 ISDでは、コーザリティの崩れは見られず、ISDで得られた結果は物理的に正しい事が分かります。